S. R. C. Pinto, A. G. Rolo, M. Buljan, A. Chahboun, R. J. Kashtiban, U. Bangert, N. P. Barradas, E. Alves, S. Bernstorff and M. J. M. Gomes, “Structural study of multilayers of Si1-xGex nanocrystals embedded in SiO2 matrix”, TNT 2010 Trends in Nanotechnology. Braga, September 06-10, 2010.
- Visão geral
Visão geral
data de publicação
- janeiro 1, 2010