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Structural characterization of µc-Si:H films produced by R.F. magnetron sputtering
Artigo Académico
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0000576844&partnerID=MN8TOARS
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autores
Martin Andritschky
Cerqueira, M.F.
Ferreira, J.A.
Andritschky, M.
Costa, M.F.M.
data de publicação
janeiro 1, 1998
publicada em
Microelectronic Engineering
Revista
Informação adicional documento
Página Inicial
627
página final
634
Volume
43-44