Structural characterization of µc-Si:H films produced by R.F. magnetron sputtering Artigo Académico uri icon

autores

  • Martin Andritschky
  • Cerqueira, M.F.
  • Ferreira, J.A.
  • Andritschky, M.
  • Costa, M.F.M.

data de publicação

  • janeiro 1, 1998