autores
- Alpuim, P.
- Fonseca, L.F.
- Weisz, S.Z.
- Alpuim, P.
- Chu, V.
- Conde, J.P.
- Naides, R.
- Balberg, I.
Light intensity exponents ns sensitive tools for the detection of impurities in a-Si:H
Artigo Académico
- Visão geral
- Informação adicional documento
- Ver Todos