Characterization of Nb-doped PZT (65/35/1) ferroelectric thin films deposited by pulsed laser ablation Artigo Académico uri icon

autores

  • Maria de Jesus de Matos Gomes
  • Mario Antonio CAIXEIRO DE CASTRO PEREIRA
  • Pereira, M.
  • Boerasu, I.
  • Gomes, M.J.M.

data de publicação

  • janeiro 1, 2008

publicada em