Design, fabrication, and wafer level testing of (NiFe/Cu) xn dual stripe GMR sensors Artigo Académico uri icon

autores

  • Almeida
  • Freitas, P.P.
  • Caldeira, M.C.
  • Reissner, M.
  • Almeida, B.G.
  • Sousa, J.B.
  • Kung, H.

data de publicação

  • janeiro 1, 1997