Erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by RF sputtering - Annealing effect on the Er emission Artigo Académico Artigo de Conferência uri icon

autores

  • Alpuim, P.
  • Cerqueira, María de Fátima
  • Alves, E.
  • Cerqueira, M. F.
  • Cerqueira, M. F.
  • Monteiro, T.
  • Monteiro, T.
  • Soares, M. J.
  • Kozanecki, A.
  • Soares, Manuel J.
  • Alpuim, P.
  • Kozanecki, A.
  • Alpuim, P.
  • Alves, E.

data de publicação

  • janeiro 2010