Structural, chemical and optical characterisation of Ge-doped SiO2 glass films grown by magnetron rf-sputtering Artigo Académico uri icon

autores

  • Maria de Jesus de Matos Gomes
  • Rolo, Anabela G.
  • Rolo, A.G.
  • Conde, O.
  • Gomes, M.J.M.
  • Dos Santos, M.P.

data de publicação

  • janeiro 1, 1999