Transmission electron microscopy analysis of the interfaces of TiAlN/Mo multilayers Artigo Académico

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autores

C.J. Tavares
L Rebouta
Tavares, C. J.
Rebouta, L
Riviere, J. P.
Denanot, M. F.

data de publicação

janeiro 1, 2008

publicada em

Microscopy and Microanalysis Revista