Transmission electron microscopy analysis of the interfaces of TiAlN/Mo multilayers Artigo Académico uri icon

autores

  • Luis Manuel Fernandes Rebouta
  • Tavares, Carlos José
  • Tavares, C. J.
  • Rebouta, L
  • Riviere, J. P.
  • Denanot, M. F.

data de publicação

  • janeiro 1, 2008