Structural properties of Ge nano-crystals embedded in SiO2 films from X-ray diffraction and Raman spectroscopy uri icon

autores

  • Maria de Jesus de Matos Gomes
  • Rolo, A.G.
  • Vasilevskiy, M.I.
  • Conde, O.
  • Gomes, M.J.M.
  • Gomes, M. J. M.

data de publicação

  • janeiro 1, 1998