Compositional analysis by RBS, XPS and EDX of ZnO:Al,Bi and ZnO:Ga,Bi thin films deposited by d.c. magnetron sputtering Artigo Académico uri icon

autores

  • Alves, L. C.
  • Alves, L. C.
  • Alves, E.
  • Alves, E.
  • Correia, F. C.
  • Barradas, N. P.
  • Barradas, N. P.
  • Paulo Salvador
  • Mendes, A.
  • Mendes, A.
  • Alves, L.
  • Tavares, Carlos José
  • Ribeiro, J. M.
  • Ribeiro, J. M.
  • Barradas, N. P.
  • Adélio Mendes
  • Paulo B. Salvador
  • Rebouta, L.

data de publicação

  • janeiro 1, 2020

publicada em