Temperature dependence of the first order Raman scattering in thin films of µc-Si:H Artigo Académico

http://dx.doi.org/10.1016/s0924-0136(99)00152-1

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autores

Cerqueira, María de Fátima
Cerqueira, M.F
Ferreira, J.A

data de publicação

agosto 1, 1999

publicada em

Journal of Materials Processing Technology Revista