Effect of low level contamination on TiAl alloys studied by SIMS

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Visão geral

autores

• José Joaquim Carneiro Barbosa
• Barbosa, J.
• Naia, M.D.
• Moutinho, A.M.C.

data de publicação

• janeiro 1, 2004

publicada em

• Applied Surface Science  Revista

Pesquisas

palavras-chave

• TiAl
• alloys

Identidade

Digital Object Identifier (DOI)

• https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.03.142

Informação adicional documento

Página Inicial

• 854

página final

• 858

Volume

• 231-232