autores E M F Vieira Freitas, João R. Pimenta, Sara Filomena Ribeiro BRUNO MIGUEL CARPINTEIRO ESTEVES Rodrigues, José Artur Oliveira Correia, J. H. Eliana M.F. Vieira Correia, J. H. Vieira, E. M. F
palavras-chave Optical characterization Physical vapour deposition Thermoelectric phenomenon Thin-films X-ray diffraction analysis