autores
- Ferdov, S.
- Ferdov, S.
- Kolitsch, U.
- Lengauer, C.
- Tillmanns, E.
- Lin, Z.
- Ferreira, R. A. Sa
Refinement of the layered titanosilicate AM-1 from single-crystal X-ray diffraction data
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data de publicação
- janeiro 1, 2007