Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin films uri icon

autores

  • Cerqueira, María de Fátima
  • Ferreira, J. A.
  • Losurdo, M.
  • Cerqueira, M.F.
  • Losurdo, M.
  • Cerqueira, M. F.
  • Stepikhova, M.V.
  • Alves, E.
  • Stepikhova, M.
  • Alves, E.
  • Giangregorio, M.M.
  • Giangregorio, M. M.
  • Pinto, P.
  • Ferreira, J.A.
  • Pinto, P.

data de publicação

  • dezembro 1, 2001