autores
- Cerqueira, María de Fátima
- Cerqueira, M.F
- Ferreira, J.A
- Adriaenssens, G.J
Structural studies and influence of the structure on the electrical and optical properties of microcrystalline silicon thin films produced by RF sputtering
- Visão geral
- Pesquisas
- Identidade
- Informação adicional documento
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