On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba 0.8 Sr 0.2 TiO 3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical properties Artigo de Conferência uri icon

autores

  • Maria de Jesus de Matos Gomes
  • Mario Antonio CAIXEIRO DE CASTRO PEREIRA
  • José Pedro Basto da Silva
  • Parisini, A.
  • Alves, E.
  • Sekhar, K.C.
  • Barradas, N. P.
  • Rodrigues, S.A.S.
  • Gomes, M. J. M.
  • Pereira, M.
  • Parisini, A.
  • Silva, José Pedro Basto
  • Alves, E.
  • Sekhar, K. C.
  • Barradas, N.P.
  • Rodrigues, S. A. S.
  • Gomes, M.J.M.
  • Pereira, Mário

data de publicação

  • janeiro 1, 2013