Digital Platform for Wafer-Level MEMS Testing and Characterization Using Electrical Response Artigo Académico uri icon

autores

  • Brito, N.
  • Cabral, Jorge
  • Luis A. Rocha
  • Ferreira, C.
  • Gaspar, J
  • Alves, F.
  • Joao L. Monteiro
  • Cabral, J.
  • Luis Alexandre Rocha
  • Alves, F.
  • Brito, Nuno
  • Gaspar, J.
  • Carlos Cordoso Ferreira
  • Monteiro, J.
  • Filipe Manuel Serra Alves
  • Rocha, L.

data de publicação

  • janeiro 1, 2016