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Microstructure and reaction mechanisms at ¿-TiAl brazed interfaces
Artigo Académico
http://dx.doi.org/10.1017/s1431927609990791
Visão geral
Identidade
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Visão geral
autores
Anibal Guedes
Guedes, A.
Pinto, A. M. P.
Sequeiros, E. W.
Vieira, M. F.
Viana, F.
data de publicação
julho 1, 2009
publicada em
Microscopy and Microanalysis
Revista
Identidade
Digital Object Identifier (DOI)
https://doi.org/10.1017/s1431927609990791
Informação adicional documento
Página Inicial
67
página final
68
Volume
15
questão
S3