autores
- Giraldez, M.J.
- E., Yebra-Pimentel
- C. Garcia-Resua
- Maria Madalena da Cunha Faria de Lira
Contact lenses surface topography analysis by atomic force microscopy: Ra, Rq, Kurtosis and Skewness
- Visão geral
Visão geral
data de publicação
- outubro 1, 2008