VIVO
Selecione um idioma
Português (Portugal)
English (United States)
Index
Formulário de pesquisa
Início
Pessoas
Organizações
Investigação
Eventos
Mapa de capacidades
Residual stress measurement in PVD optical coatings by microtopography
full text
full text
Visão geral
Pesquisas
Identidade
Informação adicional documento
Ver Todos
Visão geral
autores
Manuel Filipe Pereira da Cunha Martins Costa
Teixeira, Vasco M. P.
Costa, Manuel F. M.
data de publicação
janeiro 1, 2011
publicada em
Measurement
Revista
Pesquisas
palavras-chave
Microtopography
PVD
Residual stress
Thin films
Triangulation
WO3
Identidade
Digital Object Identifier (DOI)
https://doi.org/10.1016/j.measurement.2010.11.010
Informação adicional documento
Página Inicial
549
página final
553
Volume
44
questão
3