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Capacitors impedance measurement using Ellipse Fiitting algorithm with sub-nyquist samplig
Artigo Académico
https://ieeexplore.ieee.org/document/6749903
Visão geral
Pesquisas
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autores
Bezzeghoud, M.
Tlemcani, M.
André, Albino
Hugo, G. Silva
Mourad, Bezzeghoud
data de publicação
janeiro 1, 2013
publicada em
IEEE
Revista
Pesquisas
palavras-chave
ADC
capacitors
ellipse fitting