Capacitors impedance measurement using Ellipse Fiitting algorithm with sub-nyquist samplig Artigo Académico uri icon

autores

  • Bezzeghoud, M.
  • Tlemcani, M.
  • André, Albino
  • Hugo, G. Silva
  • Mourad, Bezzeghoud

data de publicação

  • janeiro 1, 2013

publicada em