Structural characterization of nanogranular BatiO3-Cofe2O4 thin films deposited by laser ablation on Si/Pt substrates uri icon

autores

  • J. Barbosa
  • Almeida
  • J.A. Mendes
  • A.G. Rolo
  • J.P. Araújo

data de publicação

  • setembro 1, 2006