Raman spectroscopy analysis of magnetron sputtered RuO2 thin films Artigo Académico

http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0141859834&partnerID=MN8TOARS

Visão geral
Identidade
Informação adicional documento
Ver Todos

autores

Teixeira, Vasco M. P.
Meng, L.-J.
Teixeira, V.
Dos Santos, M.P.

data de publicação

janeiro 1, 2003

publicada em

Thin Solid Films Revista