autores
- Almeida
- Almeida, B.G.
- Sousa, J.B.
- Colino, J.
- Schuller, Y.
- Schad, R.
- Moshchalkov, V.V.
- Bruynseraede, Y.
s-d electron scattering as a sensitive probe to study Fe/Cr multilayer structural differences (MBE/sputtered samples)
Artigo Académico
- Visão geral
- Identidade
- Informação adicional documento
- Ver Todos