Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO 2 nanolayers uri icon

autores

  • E M F Vieira
  • Maria de Jesus de Matos Gomes
  • Rolo, Anabela G.
  • Vieira, E.M.F.
  • Chahboun, A.
  • Diaz, R.
  • Gomes, M. J. M.
  • Grisolia, J.
  • Parisini, A.
  • Vieira, E. M. F
  • Diaz, Regis
  • Martín-Sánchez, J.
  • Grisolia, Jeremie
  • Levichev, S.
  • Parisini, A.
  • Rolo, A.G.
  • Chahboun, A.
  • Martín-Sánchez, J.
  • Gomes, M.J.M.
  • Levichev, S.

data de publicação

  • janeiro 1, 2013