Surface characterization of Ti-Si-C-ON coatings for orthopedic devices: XPS and Raman spectroscopy uri icon

autores

  • Almeida
  • Carvalho S
  • Mariana Contente Rangel Henriques
  • Henriques, Mariana
  • Oliveira, C.
  • Espinosa, A.
  • Galindo, R.E.
  • Carvalho, S.
  • Palacio, C.
  • Calderon V, S.
  • Oliveira, C.
  • Almeida, B.G.
  • Escobar Galindo, R.
  • Henriques, M.
  • Palacio, C.
  • Espinosa, A.
  • Sebastián Calderón Velasco
  • Almeida, B. G.
  • Carvalho, S.

data de publicação

  • janeiro 1, 2011