Structural and electrical characterization of SiGe nanocrystals embedded in alumina and silica matrices E. M. F. Vieira, J. Martín-Sánchez, S. Levichev, A. Parisini, M. Buljan, I. Capan, E. Alves, N. P. Barradas, O. Conde, S. Bernstorff, A.G.Rolo, A. Chahboun and M. J. M. Gomes Jornadas do Centro de Física, Universidade do Minho, Braga, October 2011.