Raman spectra and structural analysis in ZrOxNy thin films

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Visão geral

autores

• Cacilda Maria Lima de Moura
• Filipe Vaz
• Luís António Carvalho Gachineiro da Cunha
• Alves, E.
• Moura, C.
• Carvalho, P.
• Moura, C.
• Carvalho, P.
• Vaz, F.
• Cunha, L.
• Vaz, F.
• Alves, E.
• Cunha, L.

data de publicação

• janeiro 1, 2006

publicada em

• Thin Solid Films  Revista

Pesquisas

palavras-chave

• Decorative coatings
• Raman
• Sputtering
• X-ray diffraction
• Zirconium oxynitride

Identidade

Digital Object Identifier (DOI)

• https://doi.org/10.1016/j.tsf.2006.07.039

Informação adicional documento

Página Inicial

• 1132

página final

• 1137

Volume

• 515

questão

• 3